Agilent 安捷倫 6540 配套氮氣發生器

2010年Flairmo*實驗室空壓機問世，基于在氣體制造及純化技術上建立起來的強大技術團隊和專業知識背景，Flairmo 不斷開展對空氣分離技術的開發及創造性研究工作，現已成功發展成為現今世界上重要的氣體發生器制造商之一。公司總部設在丹麥奧爾堡。10多年來Flairmo一直從事壓縮機和氮氣發生器的制造，產品滿足各類實驗室、科學儀器對高純氫氣、高純氮氣、零級空氣、大流量氮氣等氣體的需求，涉及醫療，實驗室，食品，工業等各個行業。

型號：N2G 40 – A200.6

氮氣純度99.5%，流量40L/min，內置空壓機，壁掛式/柜式箱體，整套系統占地面積不超過0.4平方米，質譜配套氮氣發生器。適配Agilent安捷倫，Thermo Fisher賽默飛，AB SCIEX，沃特世Waters ，布魯克 Bruker，島津Shimadzu，PerkinElmer珀金埃爾默等品牌液質聯用儀LC-MS。

提供3年10000小時質保服務。

所用技術 PSA

流速        40 SLPM

出口壓力 0   到 7 barg / 0 到   100 psig

空壓機     內置

操作環境溫度          5°C   到40°C

工作環境濕度          相對濕度≤   70% , 不冷凝

高海拔     2000 米

尺寸        （長x寬x高 ）： 615 x 630 x 860 mm

重量：110 kg

Agilent 安捷倫 6540 配套氮氣發生器

丹麥Flairmo*氮氣發生器專門為LCMS設計，采用*進的PSA技術，將空氣壓縮機里的氣體導入碳分子篩，氧氣、二氧化碳、水份及其他雜質在通過碳分子篩時被除去，只允許氮氣通過碳分子篩并進入蓄氣池，在蓄氣池里進行壓力和流速的調節后就可以與用氣設備相連。

Flairmo N2G40-A200.6系列氮氣發生器高配機型內置氧濃度分析儀，可以實現純度在線顯示，報警等功能，并且可以用手機APP或者電腦程序實施遠程監測，機器的內部控制結合氧濃度分析儀實現純度的真正可選可控，只會產出我們設定好需要的氮氣。

Flairmo N2G40-A200.6系列氮氣發生器配備了LCD 觸摸顯示屏可以方便查看機器狀態和記錄，如開機次數，運行時間，純度設置，純度報警，維修服務提醒等等。

與采用中空纖維膜技術對比

1、碳分子篩技術可實現自我凈化，不僅有效去除雜質和碳氫化合物，而且得到的氮氣純度更高，這就是為什么所有廠家氣相用氮氣發生器（因為純度要求達到99.999%）全部采用碳分子篩技術而不是膜分離技術。

2、膜分離技術，根據不同氣體在通過膜時的滲透屬性不同，將空氣中的氮氣分離出來，但通過膜的壓縮空氣即使之前經過凈化也會存在一定的雜質和碳氫化合物，這些雜質會附著在膜上而不會*排除，在空氣濕度大的地方，膜的分離效率會不斷降低，純度和流速會逐漸降低.

3、碳分子篩技術更適宜于潮濕的空氣環境和高溫天氣；

安捷倫Agilent 6540 超高解析度四級桿－飛行時間質譜儀（Q-TOF）是基于四極桿和飛行時間技術的精確質量MS/MS儀器。Agilent 6540 Q-TOF具有出色的靈敏度、動態范圍、同位素保真度、質量精度和分辨率，可滿足您的不同研究需求。

Agilent 6540 Q-TOF質譜儀的結構

Agilent 6540 Q-TOF質譜儀由離子源、離子光學器件、四極桿、碰撞池、離子束整形器、TOF質量分析儀和離子檢測器組成。

離子源：樣品在離子源中被電離。Agilent 6540 Q-TOF包含幾個大氣壓電離源，包括電噴霧電離（ESI）、化學電離（APCI）和JetStream ESI。采用Agilent Jet Stream技術的ESI JetStream ESI使用鞘氮氣體來限制電噴霧。離子密度和去溶劑化得到改善，提高了MS的信號強度并降低了噪聲。在最佳LC流速下，通過Agilent Jet Stream技術，MS和MS/MS靈敏度可提高5到10倍。

離子光學器件：離子光學器件包含分離器、八極桿離子導向器和透鏡。離子源中產生的樣品離子通過干燥氣體被靜電吸走，然后通過加熱的采樣毛細管氣動地導入真空系統的第一級。分離器可以使大部分干燥氣體和溶劑蒸氣偏轉。通過分離器后，離子進入八極桿離子導向器，離子在此處聚集。八極桿離子導向器是一組具有相同開放軸的小平行金屬棒。

四極桿：四極桿由四根平行的金屬棒組成，用作質量過濾器。只有選定的m/z值的離子可以通過桿，其他離子會與桿碰撞。雙曲桿可以優化離子傳輸和光譜分辨率。四極桿的末端由短雙曲線桿組成，但它們的射頻（RF）電壓僅夠將離子引導到碰撞池中。

碰撞池：碰撞池是一個高壓六極桿組件，其軸向加速度經過調整，可以提高靈敏度，同時消除串擾。選定離子在碰撞池碎裂。在加速的線性電壓上施加碰撞能量電壓，以生成碎片或產物離子。 六極桿組件直徑小，有助于捕獲碎片離子。 六極桿的幾何形狀在離子聚焦和離子傳輸方面具有優勢。碰撞池由六個電阻涂覆的桿組成，這些桿用于在碰撞池的整個長度范圍上產生電位差。通過這種方式，前體離子或碎片離子得以傳輸，且無法隨機漂移。

離子束整形器：離子束整形器內進行10倍的壓縮和冷卻，以產生更密集、更細的離子束，該離子束穿過很窄的縫隙進入切片器和脈沖發生器區域。為了促進離子束成形，透鏡將離子聚焦，因此離子將以平行束的形式進入TOF分析儀。離子束越平行，所得質譜圖中的分辨率越高。

飛行時間（TOF）質量分析儀：幾乎平行的離子束進入TOF的離子脈沖發生器。向離子脈沖器施加高壓（HV），離子開始向檢測器飛行。離子離開離子脈沖發生器，穿過長度約一米的飛行管。在飛行管的末端，有一個稱為反射鏡的離子鏡，可反射飛行管末端附近的離子。反射器通過將相同空間中的飛行距離加倍并執行重新聚焦操作，使具有不同初始速度的離子仍能同時到達檢測器，從而提高了儀器的分辨能力。

離子檢測器：離子檢測器包含一個微通道板（MCP）、一個閃爍器和一個光電倍增管（PMT）。當離子撞擊MCP的前表面時，電子會逸出并開始電信號放大的過程。然后，這些離子被聚焦到閃爍體上，當被電子撞擊時，該閃爍體會閃光。閃爍體產生的光以接地電位輸出的信號傳輸到PMT。

Q-TOF質譜儀的原理：四極桿質量分析儀可以利用在振蕩電場中的軌跡穩定性，根據質荷比（m/z）分離離子。如上圖所示，它由四個平行的金屬棒組成，在一對棒和另一對棒之間施加具有DC偏置電壓的射頻（RF）電壓。它可以用作質量過濾器，僅傳輸選定m/z值的離子以實現穩定的軌跡。其他m/z值的離子與桿或壁碰撞，無法通過桿。離子的飛行時間隨線性TOF中m/z的平方根而變化。因此，在理想狀態下，較輕的離子將比較重的離子更早到達檢測器。在Agilent 6540 Q-TOF質譜儀中，反射電子TOF分析儀由一系列高壓環形電極組成，可以校正離子飛行方向上的動能分布并提高分辨率。具有更多能量的離子會更深入地滲透到反射器中，而相同m/z的、能量較低的離子滲透到反射器中的距離更短。以此方式，檢測器在大約同一時間接收相同m/z的離子。

Agilent 6540 Q-TOF質譜儀的工作模式

TOF模式：四極桿處于總傳輸離子（TTI）的環境中，這意味著所有離子都可以通過四極桿。TOF模式下，碰撞池并不用于碎裂離子，而是作為離子傳輸設備使用。TOF質量分析儀處于掃描模式，可直接檢測離子。從TOF模式獲得的質譜等同于從單個TOF質量分析儀獲得的質譜。

自動MS/MS模式：在這種模式下，儀器可以根據用戶設置的條件自動對合格的離子進行二次質譜分析。當特定離子或一組離子滿足設置條件時，四極桿處于選定的離子監控（SIM）中，并且碰撞池可以使離子裂解。然后，可以用TOF掃描碎片離子并獲得質譜圖。自動MS/MS模式通常用于未知化合物的鑒定和結構分析。

靶向MS/MS模式：在這種模式下，只能獲得用戶靶向的離子質譜圖。類似于自動MS/MS模式，四極桿處于SIM卡中，碰撞池可以使離子裂解。然后，可以用TOF掃描碎片離子并獲得質譜圖。該模式對于定量分析、已知化合物的鑒定和結構闡明很有用。

Agilent 6540 Q-TOF優點

1. 強大的數據挖掘和分析功能。Agilent公司的MassHunter軟件使得質譜分析更快、更簡單、更高效。復雜的算法可以自動檢索每個組分的所有信息，包括重疊峰和共洗脫峰，從而節省分析時間。此外，MassHunter軟件可以使用公共數據庫和軟件數據庫進行自動化和準確的搜索，從而使化合物鑒定更加容易。農藥、法醫、毒理學和其他小分子化合物可以使用從準確的質量MS或MS/MS數據以及準確的質量和保留時間數據庫生成的化學式進行篩選和鑒定。

2. 更好的性能。具有離子束壓縮（IBC）和增強鏡技術（EMT）的Agilent 6540 Q-TOF可以提高質量精度和分辨率。IBC將離子束壓縮并冷卻成非常密集的離子層，從而以最小的靈敏度損失提高質量分辨率和質量準確性。此外，如上所述，Agilent 噴射流技術可以提高靈敏度。

3. 采用Agilent噴射流技術、IBC、EMT和MassHunter工作站數據挖掘工具的Agilent 6540超高解析度Q-TOF可提供靈敏、準確的MS和MS/MS分析。出色的MS和MS/MS性能使6540 Q-TOF系統能夠支持要求苛刻的應用，包括蛋白質的鑒定和表征、代謝組學、生物標記物發現、雜質譜、化合物譜、天然產物篩選以及組合化學目標化合物分析。